TCD－9302局部放（fàng）電測試儀 技（jì）術使用說明書 一（yī）、概述 TCD－9302局部（bù）放電測試儀是我公司研製開發生產的（de）一種新型儀器。它基本上保持了原有局部放電檢測儀的優點和功能，並（bìng）致力於縮小儀器體積、重量、使（shǐ）之（zhī）成為名符其實的攜帶式儀器。該儀器是根據IEC(270)標（biāo）準，利（lì）用脈衝電（diàn）流（liú）法原理研製（zhì）而成，並滿足（zú）GB-7354-2004、GB-1207-97、GB－1208－97中關於局部放電（diàn）測試對測試儀器規定的技術（shù）要求。該儀器具有靈敏度高、放大器係統動態範圍大、測試的試（shì）品範圍廣、操作簡（jiǎn）便等優點。並（bìng）采用先進的抗（kàng）幹擾組件和獨特（tè）的門顯示電路，抗幹擾能力強，並具有四種高頻橢圓掃描，適用於高壓產品的（de）型（xíng）式、出廠試驗（yàn），新產品研（yán）製試驗，電機、互感器（qì）、電（diàn）纜、套管、電容器、變壓器、避雷器、開（kāi）關及其它高壓（yā）電器局部放電的定（dìng）量測（cè）試（shì）。可供製造（zào）廠、科研部門、電（diàn）力部門現場使用。 二、名（míng）詞、術語 1． 局部放電 局部放電是指在絕緣的局部位（wèi）置放電，它並不構成整個絕（jué）緣的貫通性擊穿。它包含三種放電形式：內部放電（在介質內部）、沿麵放電（在介質表麵）、電暈放電（在電極**）。 2． 電荷量q 在（zài）試品兩端瞬時注入一定電荷（hé）量，使試品端電壓的（de）變化和由局部放電（diàn）本身引起的端電壓（yā）的（de）變化相同，此注（zhù）入量即為局部放電的視在電荷量。 3． 視在放電（diàn）量校準器 視在（zài）放電量校準器是一標（biāo）準電量發生器，試驗前它（tā）以輸出（chū）某（mǒu）固定電量（liàng）加之試品（pǐn）兩端，模（mó）擬該試品在此電量下放電時（shí）局部放（fàng）電測試（shì）儀的響應，此時調整刻度係數，確定局部放電檢測儀的量程，以便在試驗時測量該試品在額定電壓下的視在放電量。因該放（fàng）電量時以標準電量發生器比較後間接測（cè）出，而非直接測出，故此（cǐ）放電量稱為“視在放電量”。 校正電量發生器是（shì）測量局部放電（diàn）時必備（bèi）的儀器，它的性能參（cān）數直接關（guān）係到（dào）測試（shì）結果的準確性。 視在放電量校準器由校準脈（mò）衝電壓發生器和校準電容串聯組成，其參數主要包括（kuò）：脈衝波形（xíng）上升時間、衰減時間、內阻、脈衝峰值（zhí）、校準電容值等。 校準脈衝（chōng）電壓發生器電壓波（bō）形上升時間為從0.1U0到0.9U0的時間，衰減時間定義為從峰值下降到0.1U0的時間。 4．檢測阻抗 檢測阻抗是拾取檢測（cè）信號的裝置，在使用中，應根據不同的測試目的，被試品的種類來選（xuǎn）擇合適的檢測（cè）阻抗，以提高局部放電測（cè）量的靈敏度、分辨能力、波形特性（xìng）及信噪比（bǐ）。 檢測阻抗按調諧電容範圍分1～12號。（見（jiàn）表1） 5．時間窗(門單元) 時間（jiān）窗是（shì）為（wéi）防止大於局部放電的幹擾信號進入峰值檢波電路而設計的一種（zhǒng）電路（lù）裝置。因在實際試（shì）驗時，尤其是在現場（chǎng）做試驗時，不可避免地（dì）會引入一些幹擾，所以，時間窗的使用更顯得重（chóng）要。 時間窗的工（gōng）作原理是把橢圓掃描時（shí）基分成導（dǎo）通(加亮區域)和截止（zhǐ）(未加亮（liàng）區域)兩部分,通過改變時間窗的位置和寬（kuān）度將（jiāng）放電脈衝置於（yú）導通(加亮區域（yù）)，幹擾脈衝置於截止(未加亮區域)，此（cǐ）時儀表讀數即（jí）為放電（diàn）脈衝數值，而（ér）幹擾則不論大小，皆不會影響（xiǎng）放電脈衝數值。若此（cǐ）時兩個時間（jiān）窗同時關閉，則儀表讀數為整個橢圓上脈衝之峰值。 三、技術參數 1．可測試品的電容範圍：6ｐF~250ｕF 2．檢測靈敏度及允許（xǔ）電流(見表1)。 3．橢圓掃描時基 (1) 頻率：50、100、150、200、400Ｈz (2) 旋轉：以30度為一檔，可旋轉120度。 (3) 工作方式：標準（zhǔn）－擴展－直線。 (4) 高頻時基橢圓的輸入電壓範（fàn）圍：13~275Ｖ。 4．顯示單元（yuán） 采用100×80mm矩形示波管，有（yǒu）亮度與聚焦調節旋鈕。 5．放大器 (1) 3dB低頻端頻fL：20、40KHz任選。 (2) 3dB高頻端頻率fH：200、300KHz任（rèn）選。 (3) 增益調節（jiē）：粗調6檔，檔間增益差10倍（bèi）±5%。 (4) 細調（diào）範圍：＞10倍。 (5) 正、負脈衝響應不對稱（chēng）性：＜5%。 6．時（shí）間（jiān）窗 (1) 窗寬：5度~150度(50Hz) 連續可調。 (2) 窗位置：每一窗可旋轉0度~170度。 (3) 兩個時（shí）間窗可分別或同（tóng）時控製。 7、脈衝峰值表 (1) 線性指示（shì）：0~100誤差不大於5%。 (2) 對（duì）數指示：1~100誤（wù）差（chà）不大於5%。 表1 檢測靈（líng）敏度（dù）及（jí）輸入單元允許電（diàn）流值 輸（shū）入單元序號 | 調（diào）電容範圍 | 靈敏度(PC) (不平衡電路) | 允許電流有效值 | 不平衡電路 | 平衡電（diàn）路 | 1 | 6－25－100微微法 | 0.02 | 30mA | 0.25A | 2 | 25－100－400微微法 | 0.04 | 60mA | 0.5A | 3 | 100－400－1500微（wēi）微法 | 0.06 | 120mA | 1A | 4 | 400－1500－6000微微法 | 0.1 | 0.25A | 2A | 5 | 1500－6000－25000微微法 | 0.2 | 0.5A | 4A | 6 | 0.006－0.025－0.1微法 | 0.3 | 1A | 8A | 7 | 0.025－0.1－0.4微（wēi）法（fǎ） | 0.5 | 2A | 15A | 8 | 0.1－0.4－1.5微法（fǎ） | 1 | 4A | 30A | 9 | 0.4－1.5－6.0微法 | 1.5 | 8A | 60A | 10 | 1.5－6.0－25微法（fǎ） | 2.5 | 15A | 120A | 11 | 6.0－25－60微法 | 5 | 25A | 200A | 12 | 25－60－250微法 | 10 | 50A | 300A | 7R | 電阻 | 0.5 | 2A | 15A |
8、具有輔助識別放電脈衝相位的零標誌係統。 9、工（gōng）作電源 220V±10% 工頻 10、體積：440×430×180mm 11、重量：約15Kg 四、係統工程原理簡介 若試品Ｃa在試驗電壓下產生局部放電時，經耦合電容Cｋ產生脈衝電流，由輸（shū）入單元拾取得脈衝訊號，經低噪聲前置放大、濾（lǜ）波放大器選擇所需頻帶及主（zhǔ）放放大後，在示波屏的橢圓掃描（miáo）基線上顯示出放電脈衝，同時也送到脈衝峰值表（對數表）顯示其峰值（zhí）。時（shí）間窗單元控製試驗電壓每一周期內脈（mò）衝（chōng）峰值（zhí）表的工作時間，並在這（zhè）段時間內將（jiāng）顯（xiǎn）示屏的顯（xiǎn）示加亮（liàng），寬度（dù）與位置可以改變（biàn），進一步加強了抗幹擾能力。 整個係統工（gōng）作原（yuán）理可參看框圖（圖（tú）1）。 圖1 TCD－9302局部放電測試儀原理（lǐ）方框圖 |
五、通用試驗（yàn）方（fāng）法 (一)試驗目的 (1) 證（zhèng）實試品在規定電壓下沒有高於規定值之（zhī）局部放電； (2)測定電壓上升時出現放電超過某一規定值時的*低電壓(起始放電電壓)和電壓下降時放電（diàn）低於規定（dìng）值時*高電壓(終止放電電壓)。 (3) 測定在某一規定電壓下的（de）放電（diàn）強度。 (二)試驗條件 (1) 交流（liú）電源電壓應為正（zhèng）弦波（bō），不應有過大的高次諧波（bō）。 (2) 試品的電氣（qì）、機械（xiè）、溫度條件應良好且穩定。 (3)由於電壓回（huí）滯現象的影響，在試（shì）驗前至少幾小時以上（shàng）的時間內，不（bú）要承受超過規定的局（jú）部放電試（shì）驗電壓*高值以上的電壓。 (4) 經過搬運後的（de）試品，必須靜放一段時間後再做局部放電試驗(油浸)。 (三)試驗程序 1.將試驗區內的雜物盡（jìn）量移到試區以外，各種金屬物體（tǐ）應牢固接地，檢查和改善試區內一（yī）切可能放電的部位，應（yīng）特（tè）別注（zhù）意各種地線（xiàn）是否（fǒu）已接地。 2. 根（gēn）據不同的試品和試驗條件，選擇正確的接線方式。 3. 用（yòng）視在放電量校準器（qì）（Q視）對整個測試（shì）係統進行刻度係（xì）數K校正。如圖1將視在放電量校準（zhǔn）器接入線路中，調節儀（yí）器（qì）的增益旋鈕，把指針調至（zhì）參考值H，則刻度係數K＝H/Q視（詳見具體操（cāo）作說明5） 。校正完畢後，測試儀器的細調（連續（xù）調節）增益旋鈕不（bú）得隨意變動，同（tóng）時應將視（shì）在放電量校準器（qì）從高壓線路上取下，以免在加壓試驗時將視在放電量校準器擊穿而使高壓線路短（duǎn）路。 (四)注意事項 1.在試驗開始（shǐ）加壓以前，試驗人員必須詳細而**地（dì）檢查一遍線（xiàn）路，以免線路接錯（cuò）。測試（shì）儀器處的接（jiē）地線是否與接地體牢固連接，若連接不牢或在（zài）準備工作時掐頭（tóu）去尾線被腳踢斷，這將可能引起人身和設備事故。 2．對於連接線應避免將**暴露在外，防止**電暈放電，尤其對於電壓等級較高的局部放（fàng）電試驗，必要時要加（jiā）粗高（gāo）壓連接（jiē）線及加裝防電暈罩，減小因場強（qiáng）過高引起的電暈放電。屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。 3.一般情（qíng）況（kuàng）下，在試驗過程中，被試品在耐壓、預升壓時局部放電量都比正常值大很多，此時儀器的儀表必然會超出滿（mǎn）刻度。為防止儀器損壞，應將儀器的增（zēng）益粗調旋鈕逆時針旋轉一檔（dàng）或更多檔，以不超出滿刻度（dù）為標（biāo）準。當電壓降至測（cè）量電壓時，再將增益粗調開關順時針旋轉（zhuǎn）一檔或更多檔，以便記錄測量值。 4.校正電量發生器校正完畢後，一定要從高壓端脫離，並關（guān）閉電源開關，且（qiě）儀器的增益細（xì）調旋鈕不（bú）可再（zài）調。因增益粗調開關每相鄰兩（liǎng）檔之間的關係是十（shí）倍，且檔位（wèi）有指示，故升壓後根據（jù）放電量大小，可選擇合適量程。逆時針旋轉時，每降一檔量程擴大十倍；反之，順時針時，量（liàng）程縮小十倍。 5.試驗完畢後，應（yīng）對整個測試係統再進行一（yī）次複查校正，驗證是否與試驗前所校正（zhèng）出的刻度係數相等，以免測試儀器或其它環節在試驗過（guò）程（chéng）中發生故障而使測試結果不對。 六、具體操作說明 （一）試驗（yàn）準（zhǔn）備（bèi） 1．根據試品的容量Ca，耦合電容的大小Ck，選取適合序號（hào）的輸入（rù）單元。表1中（zhōng）調諧電容量係指與輸入單元初級繞組並聯的電容（粗略估（gū）算（suàn）以按試品容量與（yǔ）耦合電容的容量串聯計算）。例如：試品（pǐn）容量為120ｐF，耦合電容量為1000ｐF，則所需（xū）檢測阻抗為有 ≈107，查表1可取2號單元。
輸入單元應盡量靠近試品，輸入單元經8米長的測量電纜與放大器輸入插座（zuò）相連。 2. 試品接入輸入單元的方法有（yǒu）以（yǐ）下幾種（見圖3）：  
其中：Z為阻塞阻抗； Ca為試品； Ck為耦合電容。 1． 麵板示意圖  
4．準備 在儀（yí）器後麵板AC220V插座上接上220V工頻電源，然後打開電源開關，讓（ràng）儀器預熱5分鍾，同（tóng）時對有關（guān）開關進行操作。 “標準－擴展－直線”開關置於標準 放大器頻帶fL、fH分別置20KHｚ，300KHｚ，放大器增益粗調置3檔，細調置中間位置（zhì），切不（bú）可一開始將粗調開關置***。 根（gēn）據不同（tóng）頻率的試（shì）驗電源選擇電源（yuán）頻率，以便觀察合適的橢圓（yuán）。 如果中頻試（shì）驗電源，請將中頻試驗電壓開關旋在275V檔，然後再接上中頻電源。觀察數字表讀數，如果差得太多，可將試（shì）驗電壓開關往小檔位上（shàng）旋一檔（dàng），直至合適值，千萬不可旋在太小檔位上，同時請注（zhù）意（yì），輸入儀器的中頻電壓萬不可超過規定（dìng）值（zhí）275V！，否則儀（yí）器（qì）被損壞。 橢圓旋轉可不作調節。窗開關打在關位置，以後根據幹擾出現的相位可開窗適當調旋轉，根據幹擾情況調窗寬、位置（zhì），使幹擾在門窗之外，使局部信（xìn）號在窗上（shàng），以便讀取放電的數值。 線性、對（duì）數（shù）開關（guān）置（zhì）於線性位置。 5. 視在放電量校準（JZF－10校正脈衝發生器） 用視在放（fàng）電（diàn）量校準器（JZF－10校（xiào）正脈（mò）衝發生器）的輸出接於試品兩端，紅端接高壓端(引線盡可能（néng）短，以防幹擾)，黑端接（jiē）低壓端，調節其輸（shū）出放電量，例如50PC，調節放大器（qì）增益粗調及增益細調旋鈕，使放電量（liàng）表（biǎo）指（zhǐ）示滿度。此時放電量表指示滿度即100%表示50PC的放電（diàn）量，注意此時增益（yì）細調旋鈕位置（zhì）不可再動。測量盒應盡（jìn）量（liàng）靠近試品高壓端（duān）。 校準完畢後，拆除視在放（fàng）電量校準器的連線，並關（guān）斷其電（diàn）源，防止高壓損壞校準器。 6. 試（shì）驗操作 接通（tōng）高壓試驗回路的電源，逐步升高電壓至規定電壓，時刻注視PC表指示，此時放電量表的讀數表示（shì）試品（pǐn）放電量的（de）大小，如指示在80%，則表示試品視在（zài）放電量為50×80%＝40PC。 若此時（shí）試品放電量（liàng）剛大於100%即超過滿度（dù），應立即將放大器增益粗調（diào）由原來的“3”切換到“2”檔，此時放電量表100%，則表示500PC，假如此時放電量指示80%，由試品放電量為（wéi）500×80%＝400PC。 若此時試品放電量小於10%： a.應將放大器粗（cū）調（diào）由“3”檔改至“4”檔（dàng），此時放電量表100%則表示5PC，假如此時放電量表指示80%，則試（shì）品視在放電量為5×80%＝4PC。 b.將儀器麵板上對數、線性開關切換至對數位置，因對數刻度10%以下分辨率高，可直接讀出對數（shù）刻度。 旋轉“橢（tuǒ）圓旋轉”開關使橢（tuǒ）圓轉到預期的放電*利於觀察之處。通常這個位置是零標脈衝分別處於橢圓上部左側及下部右側之（zhī）處（chù）。連續升高電壓，注意**次出現持（chí）續放電，當放電量超過規定的*低值時的電壓即為局部放電起始電壓。 若有幹信號在放電脈衝附（fù）近，可以用窗寬和窗位置將幹（gàn）信號（hào）擾拒之窗外，即合擾窗開關，用一個或兩個時間窗並用窗寬、窗位置來改變橢圓上加亮區域的寬度與位置，使其避開幹擾（rǎo）脈（mò）衝，這樣，放電量表的指示值隻表示放電脈衝的大（dà）小，而不表示（shì）幹擾信號的值（zhí），另外也可以改變頻帶的方（fāng）法來提高抗幹擾能力。 注：如需（xū）判斷放電相（xiàng）位，接上合適的電阻分壓器，取得10V左右的零標電壓，緩緩升高試驗電（diàn）壓，橢圓上將出現兩個（gè）零標誌脈衝，通過（guò）零標誌可判別放電的相位，如圖所（suǒ）示： 七、測試中的幹擾（rǎo）問題 在局部放電測試（shì）中，往往（wǎng）由於外部幹擾信號的影響，而使測試結果產生誤（wù）判斷，或者（zhě）使測試工作根本（běn）無法進行下去。尤其對從事局部放（fàng）電測試工作經（jīng）驗不多的人，更容易引起誤判斷。因（yīn）此，在局部放電測試技術中（zhōng），消除（chú）外部幹（gàn）擾成為一項很重要的技術（shù）內容，同時也是花錢較多的一項技術措施。 (一) 外（wài）來幹擾 1．與電源電壓無關的幹擾 這種（zhǒng）幹擾與電源電壓（加至被試品上的電壓）無關，它不隨電源電壓的升高（gāo）或降低而變化（huà）。它產生（shēng）於：電氣開關的開閉操（cāo）作、電焊起弧、吊車開動、整流電機的電刷、閃光燈、無（wú）線電電磁波以及各（gè）種工業幹擾等等。這些幹擾通過電源、測（cè）試回路和地線等途（tú）徑侵入（rù）進來。 2. 電源電（diàn）壓有關的幹擾 這類幹擾（rǎo）一般隨電源電壓的增加而變（biàn）大。它可由試區內各個（gè）部分產生。例如：試驗變壓器、高壓引線、試品端（duān）部（bù）、高壓線（xiàn）路接觸**、高壓試區的絕緣（yuán）物（wù）體與地線（或接地金屬物）接（jiē）觸、試區內金屬物體接地**、以（yǐ）及其它物體的感應放電等等。與電源電（diàn）壓有關的幹（gàn）擾的侵入（rù）途徑，可以通過電（diàn）源、高壓導線、空間和地線侵入到測試回路內（nèi）。 (二)消除外來幹擾的方法（fǎ） 1.消除與電源電壓無關的（de）幹擾方法：應從（cóng）電源、空間、接地方式幾個方麵采取措施。為了消除空間電磁波的幹擾，應將試驗室加以屏蔽。對於由電源侵入的幹（gàn）擾，一般在電源進口處加隔離變壓器（qì）和濾波裝置。消除（chú）由接地網來（lái）的幹擾，應采取一（yī）點接（jiē）地方式。 2.消除與電源有關的幹擾措施（shī）：可將高壓導線加粗（cū）（用（yòng）較粗的（de）蛇皮管、薄鐵皮圓筒或鋁筒）；對被試品端部加防（fáng）暈罩（zhào）；試區內各地線和金屬物（wù）應良好（hǎo）接（jiē）地；試區內的絕緣物體嚴禁與（yǔ）金屬接地（dì）體接觸；在高壓線下部地麵上不應（yīng）有螺（luó）釘、地線頭等（děng）金屬物（wù）體。 八、附件 說明書 1份 質量反饋（kuì）單 1份 電源線 1根 高頻線 1根 測試電纜 1根（gēn）（8米） 保險絲 2隻 合（hé）格證 九（jiǔ）、成套裝（zhuāng）置 1. 輸入阻抗 1~12號任選，7R號測長電纜用。 2. 視在放電量器校準器（JZF－10校正電量發生器，局放儀校正脈（mò）衝發生器）任選。 3. LB係列（liè）工頻、中頻濾波器 4. SBP係列三倍頻（pín）感應（yīng）試驗設備 5. 無局放電阻分壓器50KV、100KV、150KV、200KV任（rèn）選。 6. 無局（jú）放（fàng）耦合（hé）電容係（xì）列 7. YD無局放試驗變壓器係列 8. 工頻試（shì）驗控製（zhì）台 十、視（shì）在放電量校準器參數及使用（yòng） (一)局放儀校（xiào）正脈衝發生器 局（jú）放儀校正脈衝發生器是專為局部放電的檢測而（ér）設計（jì）的，本儀器的精度、上升時間（jiān）、重複頻率等直接決定了局部放電的測試精（jīng）度，此儀器符（fú）合（hé）IEC標準。此校正脈衝發生器輸出電量10~5000PC任（rèn）意調節。適用（yòng）於先校準後試驗（yàn），先試驗後校準的局放試（shì）驗中。 一、技術參數 1．方波幅值 滿刻度為2.5V、5V、10V、25V、50V； 精度為（wéi）±2% 2. 衰減器：10:1衰減3級。 3. 輸出脈衝極性 “＋”每周期提供一個主正向（xiàng）脈衝； “±”每周期提供一個正向脈衝和一個負向脈（mò）衝； “—”每周期提供（gòng）一（yī）個負向脈衝。 4. 方波前沿＜0.05us 5. 重複（fù）頻率：45Hｚ~65Hz，連續可調。 6. 脈衝衰減時間100us~1000us 7. 內阻＜75Ω。 8. 工作方式：感應同步，手動調節。 9. 一次工作時間5分鍾。 10．儀器工作環境（jìng） 0~40℃，相（xiàng）對濕（shī）度≯85； 儀器周圍無強烈（liè）振（zhèn）動，儀器平放工作，不得傾斜。 11．電源：10V可充電電池。 二（èr）、操作程序 用戶可根據實際情況選擇輸出幅值（zhí）和Cq(10pF、100pF)、模擬放電量為Q=Cq×Uo。 將（jiāng）輸出電纜一端接到“衰減輸出”高頻插座，另一端接到裝有注入（rù）電容的匹配盒。 將極（jí）性開（kāi）關調（diào）節到所需要的脈衝型號，按下啟動按鈕，儀器（qì）進入工作狀態。調節“方波幅（fú）值”旋鈕（niǔ）到所需要的電壓值範圍，然後再調節“細調”，將同步選（xuǎn）擇開關打到調頻，然後調節旋鈕使脈衝的頻率盡量接近於試驗電源的頻率，如果需要同步，將開關打到感應（yīng）接線柱上，此時脈衝與電網頻率同步。當“極（jí）性開關”旋到“V”檢查時，看（kàn）表頭指示是否在紅線以下，如果在紅線以下時則需充電。 校正結束後，必須將匹配盒拿下，以免升高壓時打壞，將儀器置於“關”位（wèi）置。 注：此儀器工作時必須平放，不能傾（qīng）斜，另此儀器的方波信號為不接地的，不用（yòng）接地。 JZF－10型正電量發生器的主要技術指標及使用 JZF－10型校正（zhèng）電量發生器是一種小（xiǎo）型的可充電電池供（gòng）電的視在放電量校（xiào）準器，它可以分別以四種放電量向試品兩端注入（rù）1.2KHｚ左右（yòu）的校正脈（mò）衝，可用於先校準後試驗的局放試驗中，適合於國際電工委員會IEC－270所推薦的任（rèn）何一種試驗電路（lù）。 （一（yī））主要技術參數 電池電壓 1.25×8V 輸（shū）出電荷量 5、50、500PC或5、10、50、100PC 方波前（qián）沿 ＜0.05us 脈寬： 100us~1000us 內阻： ＜75Ω 重複頻率 1.2KHｚ 頻率（lǜ）變化 ＞±200Hｚ 注入電容 10PF、100PF或10PF、20PF （二）使用方法 首先檢查JZF－10校（xiào）正脈衝發生器的電池電壓，如麵板上電壓表指示，在8V以上方能正常工（gōng）作。 將輸出的紅、黑兩個端子上接上導線，紅端（duān）子上的導線盡量短，且靠近試品的高壓端，黑線導線接試品的（de）低壓端，將校（xiào）正電量開關置於5、10、50、100、500中任何合適一檔即可校正。頻（pín）率可在1.2KHｚ附（fù）近調節（jiē）。 校（xiào）正電（diàn）量發生器使用後及時將調節電荷量（liàng）的（de）波段開關旋在關位置。如校正電量發生器（qì）工作時表頭指示在8V以下，則需充電，充電要適時，且時（shí）間要連續達到5小（xiǎo）時。如校準電量（liàng）發生器常期未用，則（zé）每月補充一次電。 十（shí）一、常見圖譜分析 （1）接觸** 這種幹擾源如圖1所示。其特點是幹擾波位於橢圓時基（jī）的零點附近（jìn）。在正（zhèng）負半波上對稱出現，幅值相差不大。幹擾在低電壓（yā）時即出（chū）現。電壓增大時，幹擾占位（wèi）區域也增大，由於疊加效果幅值增大較慢。有時在電壓達（dá）到某一定數（shù）值後會完全消失。 造成這種幹擾的原因有：試驗回路（lù）中金屬對金屬接觸**，塑料電線半導電屏（píng）蔽層中粒子間接觸（chù）**，電容器卷繞鋁箔電極與插接片接觸**等。 （2）浮動電位物體 波形見圖2，特別是在電壓峰值之前的正負半（bàn）波部分出現。等幅值間隙不等。由於餘輝，有時成對的出現，有時圖像有飄動。電壓增加時，根數增加，間隙縮小（xiǎo），中間值不變。有時電壓增加到一定值後幹擾（rǎo）信號會消失，再降低電壓（yā）時，又（yòu）會（huì）重新出現。 起因：金屬或碳質導體之間的間隙放電。它可以發生在試樣上或測試回路中。在兩個孤立的導電（diàn）物之間，例如地麵上處於浮動電位（wèi）的多種物體間發生。 （3）外部**電暈 波形如圖3，特別（bié）是僅在試驗電壓的一個半波中（zhōng）出現，位於外施電壓（yā）的峰值部分，等幅值，等間距。電壓增加時，放電訊號波的根數增加，但幅值總不變。 起因：高壓電極（jí）的**或邊緣對空氣（qì）中的放電。若幹擾訊號位於橢圓時基的負關（guān）周，則**電暈（yūn）處於高電（diàn）壓下，若幹擾訊號位於時基（jī）橢（tuǒ）圓的（de）正半周，則**在接地部分，有（yǒu）時也可能高（gāo）壓、接地部分都有**電暈放電，則時基橢圓的正負（fù）半（bàn）周（zhōu）就出現兩組訊（xùn）號。 （4）液體介質中的**放電 波形見圖（tú）4，特別：在試驗（yàn）電壓正負半周峰值位置均有一組訊號，同一組訊號等幅（fú）值，等間隔，一組（zǔ）中間（jiān）值較大的訊號先出現，隨電壓增（zēng）加值也增大。一組中（zhōng）間值小的訊號其幅值不隨電壓變化。 起因：在絕緣液（yè）體中發生了**或邊緣電暈放電。或（huò）一組大的（de）訊號出現在正半（bàn）周，則**位於高壓部分；若它出現在負半周，則**處於接地部分。 （5）繼電器，接觸器的（de）動作（zuò） 幹擾訊號波（bō）形見圖5，特點：在時基橢圓上幹擾訊（xùn）號波形分布不（bú）規則，間隙地出現，且同試驗電壓大小無關。 起因：閃光（guāng）燈，熱繼電器，接觸器和各種火花（huā）試（shì）驗器或有火花放電（diàn）的記錄器動作時造成。 （6）可控矽元件 幹擾訊號波（bō）形見（jiàn）圖6，特點：幹擾訊號在時基橢圓上之位置固定，每（měi）一元件產生一個獨立的高頻脈（mò）衝訊號。電路接通，電磁耦合（hé）效應增強時，訊號幅值增（zēng）加，也可能發生波形展寬（kuān）、相移，從（cóng）而在時基上占位增加。 起因（yīn）：供電網絡中有可控矽器件在運行。幹擾的大小同所用可控（kòng）矽器件的功率直接有關。 （7）異步電（diàn）機 幹擾波形見圖7。特點：在時基橢圓（yuán）上正負半周波形出現對稱的二組訊（xùn）號，且沿掃描時基逆時針方（fāng）向移動。 起因：異步電機運行時產（chǎn）生的幹擾（rǎo）訊號耦合到檢測回路中來。 （8）螢光（guāng）燈 幹擾波形見圖8。特（tè）點：在橢圓（yuán）時基（jī）上出現欄柵（shān）狀幅值大致相等（děng）的脈衝，並伴（bàn）有正負半波時對稱出現的二簇脈衝組。 （9）電動機 幹擾波形見圖9。特點：沿橢圓時基均布，等幅值每一個單個訊號（hào）或“山”字形。 起因：帶換向器（qì）的電動機（jī）如風扇、電（diàn）吹風運轉時所發出的（de）幹擾訊號。 （10）無線電幹擾 幹擾波形見圖10，特點：沿（yán）整個時基橢（tuǒ）圓分布的幅值有調製的高頻正（zhèng）弦（xián）波（bō）。 起因：高頻電力放大器，無線電話（huà）、廣播話筒等（děng）。 （11）中高頻工業設備 幹（gàn）擾波形見圖11。特點：訊號在時（shí）基橢圓上連續發生，但僅在半周內出（chū）現。 起因：感應加熱裝置及（jí）頻（pín）率接近局部放（fàng）電檢測頻率的超聲波發生器等。 （12）磁（cí）飽和產生的諧波（bō） 幹（gàn）擾波形見圖12。特點：在時基橢圓正負半波上對稱出（chū）現一對諧（xié）波振蕩（dàng）訊（xùn）號，訊號幅值隨電壓增加而增加，電壓除去，訊號消失。訊號穩定（dìng），能重複再現。 起因：試驗（yàn）係統中鐵芯設備（試驗變壓器，並聯或串聯電抗器，濾波電抗（kàng）器，匹（pǐ）配變壓器，調壓變壓器）磁飽和（hé）時產（chǎn）生的諧振訊號。 （13）電極在電場方向運動 幹（gàn）擾波形見圖13。特點：僅在時基橢圓的半周中出現二個訊號脈衝，它們相對於峰（fēng）值點對稱分布。起始點該二訊號很靠近，隨電壓增大，二者（zhě）逐漸分開，且有可能產生新的訊（xùn）號脈衝對。 起因：電極（尤其是金屬箔電極）在電場作用下（xià）運動。 （14）介質表麵放電 幹擾訊號波形見圖14。特點：放電訊號出現在試驗電壓（yā）峰（fēng）值之前。正負半周（zhōu）中都有，而且幅（fú）值基本相等（děng）。訊號幅值和（hé）位置有隨機性變化。開始時，放電訊號是可分辨 的，到一定電壓值後便難以分辨。 起因：二個接（jiē）觸的絕緣導體之間介質表麵（miàn）上（shàng）的（de），或介質表麵上切向（xiàng）場強較（jiào）高的區域發生放電。 （15）漏電痕跡（jì）和樹（shù）枝（zhī） 波形特（tè）點：訊號與一般典型的圖像不符合，波形呈不規則，不確定的圖（tú）像，與電壓有關。 起因：髒汙絕緣中泄漏，絕緣局部（bù）過熱致的碳痕（hén）跡或電樹（shù）枝足道等（děng）。 上述有些圖像，如（4）、（13）、（14）、（15）等也可能即屬試品本身的缺陷。（15）則為介質內部放電之圖像。 |