一、TCD-9305局部放電檢測儀概述
是我廠研製開發生產的一種新型儀器。它基本上保持了（le）原有局部放電（diàn）檢測儀的優點和功能，並致力於縮小儀器體積、重量、使之成為名符其實（shí）的攜帶式儀器。該儀器是根據IEC(270)標準，利用脈衝電流法原理研製而成，並滿足GB-7354-87、GB-1207-97、GB－1208－97中關於局部放電測試對測試儀器規定的技術要求。該儀器具有靈敏度高、放大器係統動（dòng）態範圍大、測（cè）試的試（shì）品範（fàn）圍廣、操作簡便等優點。並采用先進的抗幹擾組件和獨特（tè）的門顯示電路，抗幹（gàn）擾能力（lì）強，並具有（yǒu）四種高頻橢圓掃描，適用於高壓產品的型式、出廠試驗，新產品研製試驗，電機、互感（gǎn）器、電纜、套管、電（diàn）容器、變壓器、避雷器、開關及其它高壓電器局部放電的定量測試。可供製造廠（chǎng）、科研部（bù）門、電力部門現場使用（yòng）。
二、名詞、術語
1． 局部（bù）放電
局部放電是指在絕緣的（de）局部位置放電，它並不構成整個絕（jué）緣的貫通性擊穿。它包含三種放電形式：內（nèi）部放電（在介質內部）、沿麵放電（在介質表麵）、電暈放電（在電極**）。
2． 電荷量q
在試品兩端瞬（shùn）時注入（rù）一（yī）定電荷量，使試品端電壓的變化和由局部放電本身引起的端電壓的變化相同，此注入量即為局部放電的視在（zài）電荷量。
3． 視在放電量校準器
視（shì）在放電量校準器是一標準電量（liàng）發生器，試驗前它以輸出某固定電量加（jiā）之試（shì）品兩端，模擬該試品在此電量下放電時局部放電測（cè）試儀的響（xiǎng）應，此時調整刻度係（xì）數，確定局部放電檢測（cè）儀的（de）量程，以便在試驗時測量該試品在額定電壓下的視在放電量。因該放（fàng）電量時以標（biāo）準電量（liàng）發生器比較後間接測出，而非直接（jiē）測出，故此放電量（liàng）稱為“視在放電量”。
校正電量發生器（qì）是測量局部放電時必（bì）備的儀器，它的性能參數直接關（guān）係到測試結果的（de）準確性。
視在放電量校準器由校準脈衝電壓發生器和校準電容串聯組成（chéng），其參數主要包括：脈衝波形上升時間、衰減時間、內阻、脈衝峰（fēng）值、校準電容值等。
校準脈衝電壓（yā）發生器電壓波形（xíng）上升時間（jiān）為從0.1U0到0.9U0的時間，衰減時間定義為從峰值下（xià）降到0.1U0的時間。
4．檢測阻抗
檢（jiǎn）測阻抗是拾取檢測信號的裝（zhuāng）置，在（zài）使用中，應根據（jù）不同的測試目的，被試品的種類來選擇合（hé）適的（de）檢測阻抗，以（yǐ）提高局部（bù）放電測量的靈敏度、分辨能力（lì）、波形特性及信噪比。
檢測阻抗按（àn）調諧電容範圍分（fèn）1～12號。（見（jiàn）表1）
5．時間窗(門單元)
時（shí）間窗是為防止大於局（jú）部放電（diàn）的幹擾信號進入峰值檢波電路而設計的一種（zhǒng）電路裝置。因在實際試驗時，尤其是在現（xiàn）場做試驗時，不可避免地會引入一（yī）些幹擾，所以（yǐ），時間窗的使用更顯得重要。
時間窗的工作原理是把橢圓掃描時基分成導通(加亮區域)和截止(未加亮區（qū）域)兩部（bù）分,通過改變時間窗的位（wèi）置（zhì）和寬（kuān）度將放電脈衝置於導通(加亮區（qū）域（yù）)，幹擾脈衝置於截止(未加亮區域)，此時儀表讀數即為放電脈（mò）衝數值，而幹擾則不論大小，皆不會影響（xiǎng）放（fàng）電脈衝數值。若此時兩個時間窗同時關閉，則儀表讀數（shù）為（wéi）整個（gè）橢圓上脈衝之峰值。
三、TCD-9305局部放電檢測儀技術（shù）參數
1．TCD－9305局部放電（diàn）檢測儀可測試品的（de）電容範圍：6ｐF~250ｕF
2．檢測靈敏度及允許電流(見表1)。
3．橢（tuǒ）圓掃描時（shí）基
(1) 頻率：50、100、150、200、400Ｈz
(2) 旋轉：以30度為一檔，可旋轉120度。
(3) 工作方式：標準－擴展－直線。
(4) 高頻時基（jī）橢圓（yuán）的輸入電壓範圍：13~275Ｖ。
4．顯示單元
采用（yòng）100×80mm矩形示（shì）波管，有亮度與聚焦調節旋鈕。
5．放大器
(1) 3dB低頻端頻fL：20、40KHz任選。
(2) 3dB高頻端頻率fH：200、300KHz任選。
(3) 增益調節：粗調6檔，檔間增益差10倍±5%。
(4) 細調範圍（wéi）：＞10倍。
(5) 正、負（fù）脈衝響應不對稱性：＜5%。
6．時間窗
(1) 窗寬：5度~150度(50Hz) 連續可（kě）調。
(2) 窗（chuāng）位置：每一（yī）窗可旋轉0度~170度。
(3) 兩個時間（jiān）窗可分別或同時控製。
7、脈衝峰（fēng）值表
(1) 線性（xìng）指示：0~100誤差（chà）不（bú）大於5%。
(2) 指示（shì）：1~100誤差不大於5%。
表1 檢測靈敏度及輸（shū）入單元允許電流值（zhí）
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輸入單元序號
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調電容範圍（wéi）
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靈敏度(PC)
(不（bú）平衡（héng）電路)
|
允許電流有效（xiào）值
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|
不平衡（héng）電（diàn）路
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平衡電路
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1
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6－25－100微微法
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0.02
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30mA
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0.25A
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2
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25－100－400微微法
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0.04
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60mA
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0.5A
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3
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100－400－1500微微法（fǎ）
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0.06
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120mA
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1A
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|
4
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400－1500－6000微微法（fǎ）
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0.1
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0.25A
|
2A
|
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5
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1500－6000－25000微微法
|
0.2
|
0.5A
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4A
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|
6
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0.006－0.025－0.1微法
|
0.3
|
1A
|
8A
|
|
7
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0.025－0.1－0.4微法
|
0.5
|
2A
|
15A
|
|
8
|
0.1－0.4－1.5微法
|
1
|
4A
|
30A
|
|
9
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0.4－1.5－6.0微法
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1.5
|
8A
|
60A
|
|
10
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1.5－6.0－25微法
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2.5
|
15A
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120A
|
|
11
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6.0－25－60微法
|
5
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25A
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200A
|
|
12
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25－60－250微法
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10
|
50A
|
300A
|
|
7R
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電阻
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0.5
|
2A
|
15A
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8、具有輔助識別放電脈（mò）衝相位的零標（biāo）誌係（xì）統。
9、工作電源 220V±10% 工頻
10、體積：440×430×180mm
11、重量：約15Kg
四、TCD-9305局部放（fàng）電檢測儀係統工程原理簡介
若試品Ｃa在試驗電壓下產生局部放電時，經耦合電容Cｋ產生脈（mò）衝電流，由輸入單元拾取（qǔ）得脈衝訊號，經低噪聲前置放大、濾波放大器（qì）選擇所（suǒ）需頻帶及（jí）主放放大後，在（zài）示波屏的橢圓掃描基線上顯示出（chū）放電脈衝，同（tóng）時也送到脈衝峰值表（對（duì）數表）顯示其峰（fēng）值。時間窗單元控製試驗電壓（yā）每一周（zhōu）期內脈衝峰值表的（de）工作時間，並在這段時間（jiān）內將顯示屏的顯（xiǎn）示加（jiā）亮，寬度與位置可以改變，進一步加強了（le）抗幹擾能力。
整個係統工作原理可參看框圖（tú）（圖（tú）1）。
圖二 局部放電係統示意圖
五、TCD-9305局部放電（diàn）檢測（cè）儀（yí）通（tōng）用試驗方法
(一)試（shì）驗目的
(1) 證實試品在規定電壓（yā）下沒有（yǒu）高於規定值之局部放電；
(2) 測定電壓上升時出現放電超過某一規定值時的*低電壓(起始放電電壓)和電壓下降（jiàng）時放電低於規定值時*高電壓(終止放（fàng）電電壓)。
(3) 測定在某一（yī）規定電壓下的放電強度。
(二)試驗條件
(1) 交流電源電壓（yā）應（yīng）為正弦波，不應有過大的高次諧波。
(2) 試品的（de）電氣、機械、溫（wēn）度條件應良好且（qiě）穩定。
(3) 由於電（diàn）壓回滯現象的影響，在試驗前（qián）至少幾小時以上的時間內，不要承受超過規定的局部放電試（shì）驗電壓*高值以上的（de）電壓。
(4) 經過搬（bān）運後的試品，必須靜放一段時間後再做局部放電試驗(油浸)。
(三)試驗（yàn）程序
1. 將（jiāng）試驗（yàn）區內的雜物盡量移到（dào）試（shì）區（qū）以外，各（gè）種金屬物體應牢固接地，檢查和改善試區內（nèi）一切可能放（fàng）電的部位，應特別注意各種地線是否已接地。
2. 根據不同的試品和試驗條件，選（xuǎn）擇正確的接線方式。
3. 對所選擇的測試回路用視（shì）在放電量校準器對整（zhěng）個測試係統進行刻度係數校正，校正（zhèng）時對所規定的刻度係數K值調節儀器的增益旋鈕，把分刻度係數H調到H=U0C0/K值。校正完（wán）畢後（hòu），測試儀器的細調（連續調節）增益旋鈕不得隨意變動，同時應將視在（zài）放電量（liàng）校準（zhǔn）器從高壓線路上取下，以免在加壓試驗時將視在放電量校準器（qì）擊穿而使高壓線路短（duǎn）路。
(四) TCD－9305局部放電檢測儀注意事項
1. 在試驗開始加壓以（yǐ）前，試（shì）驗人員（yuán）必須詳細（xì）而全（quán）方位地檢查一遍線路，以免線路接錯。測（cè）試儀器處的（de）接地線是否與接地體牢固連接，若連接不牢或在準（zhǔn）備工作時掐頭去尾線被腳踢斷，這將可能引起人（rén）身和（hé）設備事故。
2．對（duì）於連接（jiē）線應避免將（jiāng）**暴露在外，防止**電暈（yūn）放電，尤其（qí）對於電壓等級較高的局部放電試驗，必要時要加粗高壓連接線及加裝防電暈罩（zhào），減小因場強（qiáng）過高引起（qǐ）的電暈放電（diàn）。屏蔽罩不能與試品（pǐn）的瓷裙相接觸（chù）。
3. 一般情（qíng）況下，在試驗過程中，被試品在耐壓、預（yù）升壓時局部放電量都比正常值大很多（duō），此時儀器的儀（yí）表（biǎo）必然會超出滿刻度。為防止儀器（qì）損壞（huài），應將儀器的增益粗調旋鈕逆（nì）時針旋轉一檔或更多檔，以不超出滿（mǎn）刻度為標準。當電壓降至測量電壓時，再將（jiāng）增益粗調開關（guān）順時針旋轉一檔（dàng）或更多檔，以便記錄測量值。
4. 校（xiào）正（zhèng）電量（liàng）發生器校（xiào）正完畢後，一定要從高壓端脫離，並關閉電源開（kāi）關，且儀器的（de）增益細調旋鈕不可再調。因增益粗調開關每（měi）相鄰兩檔之間的（de）關係是十倍，且檔位有指示，故（gù）升壓後（hòu）根據放電量大（dà）小，可選擇合適量程。逆時針（zhēn）旋轉時（shí），每降一檔量程擴大十倍；反之，順時針時，量程縮小（xiǎo）十倍。
5. 試驗完畢後，應對整個測（cè）試係統再（zài）進行一次複查校正，驗證是否與試驗前所校正出的（de）刻（kè）度係數相等，以免測試儀器或其它環節（jiē）在試驗過程中發生故障（zhàng）而使測試結果不對。